HNZDL系列可編程直流穩(wěn)壓大電流電源程控直流恒流源廠家

一、產(chǎn)品特點(diǎn) 

1、采用超大真彩大液晶觸摸屏人機(jī)界面，方便直接編程操作。直流開關(guān)試驗(yàn)裝置見其他詳細(xì)介紹

2、本機(jī)一次可執(zhí)行不同電壓、電流、延遲時(shí)間、運(yùn)行時(shí)間的設(shè)定，并可連續(xù)循環(huán)999999次。

3、輸出電壓可以從零伏起調(diào)；輸出電流可以從零預(yù)置;

4、具有10組記憶組,可以將以前使用過的參數(shù)存儲,以便下次使用時(shí)輕松調(diào)用。

5、 具有RS232、RS485通訊接口。功率分析儀在測試時(shí)出現(xiàn)的數(shù)據(jù)跳動、效率異常等現(xiàn)象，很多時(shí)候與信號的頻率是否準(zhǔn)確測量有著很大的關(guān)系，本文就對頻率測量的重要性進(jìn)行分析，希望能幫助大家進(jìn)行更準(zhǔn)確的測量。我們來看看為什么頻率的測量對其他參數(shù)會造成如此大的影響。同步源的選擇用過功率分析儀的工程師一定會記得，在對儀器進(jìn)行設(shè)置的時(shí)候，一個(gè)叫“同步源"的設(shè)置選項(xiàng)，該選項(xiàng)包括了各個(gè)測試通道的電壓和電流，工程師可以自主來進(jìn)行選擇。該選項(xiàng)的選擇對直流信號測試影響不大，但對交流信號的測試會有很大的影響。

6、恒定電壓、恒定電流之使用, 可自動交叉變換，維持控制與保護(hù)兼顧

7、高頻PWM硬件調(diào)整控制技術(shù)，反應(yīng)速度快，輸出穩(wěn)定  

7、具有輸出穩(wěn)壓、限流、短路保護(hù)和功率器件過熱保護(hù)功能； 優(yōu)良的輸出穩(wěn)定性能：源電壓效應(yīng)＜0.5%，負(fù)載效應(yīng)＜1%；

8、輸出直流電壓畸變系數(shù)低，干擾??； 在短路和過載故障時(shí)，可調(diào)節(jié)限流電位器來限制輸出電流值，從額定值的50%至105%之間變化；上升和下降時(shí)間決定脈沖行為，因此也決定著雕刻速度。混合氣體中的氮會降低脈沖頻率至1kHz左右。這對于過去的很多應(yīng)用已經(jīng)足夠，但對于未來的需求來說是不夠的。典型的激光功率和時(shí)間關(guān)系圖顯示出±5~1%的偏差值。這不適合控制3D雕刻材料。被測試的激光器的激光指向穩(wěn)定性出奇的好，這對于聲光調(diào)制器的使用（對入射角非常敏感）將起著直接的影響。在接近聲光調(diào)制器的功率極*，鍺晶體對不良的激光場模式非常敏感。

9、適用于阻性、感性等負(fù)載；負(fù)載適應(yīng)性強(qiáng)；

二、主要用途及適用范圍 

1、電解電容器老練，鉭電容器賦能

2、電阻器、繼電器，馬達(dá)等電子元件老練，例行試驗(yàn)

3、實(shí)驗(yàn)室，電子設(shè)備、自動測試設(shè)備

4、電子檢驗(yàn)設(shè)備、生產(chǎn)線設(shè)備、通訊設(shè)備

，testo33LL可以測量壓差，然而在燃燒器調(diào)試等一些應(yīng)用，壓力傳感器的精度并不能滿足檢測需求。德圖帶你領(lǐng)略testo33LL煙氣分析儀不一樣的壓力測量技能。安裝方式：將環(huán)境溫度傳感器從testo33LL上取下，并安裝在精密壓力探頭上。將精密壓力探頭通訊電纜連接至testo33LL上的環(huán)境溫度傳感器插口。將軟管連接至測量壓力接口。按照上述方式完成精密壓力探頭的安裝，即可進(jìn)行差壓測量，精度可達(dá)±.3Pa，測量速率max.1米/秒。交流輸入 15KW以下（單相110V±10%、220V±10%、或者三相380V±15%）

15KW以上（三相380V±15%）

頻率：50HZ、60HZ、400HZ任選

直流輸出 電壓（穩(wěn)壓值CC）：0- 6000V連續(xù)可調(diào)  

電流（恒流值CV）：0- 100000A連續(xù)可調(diào)   

源電壓效應(yīng) ≤0.2%有效值 CAN一致性測試主要分為物理層、鏈路層、應(yīng)用層三大部分測試內(nèi)容。在CAN網(wǎng)絡(luò)中，各節(jié)點(diǎn)遵循CAN一致性測試是保證總線穩(wěn)定運(yùn)行的重要前提。在物理層中，CAN總線設(shè)計(jì)規(guī)范對于CAN節(jié)點(diǎn)的輸入電壓閾值有著嚴(yán)格的規(guī)定，如果節(jié)點(diǎn)的輸入電壓閾值不符合規(guī)范，則在現(xiàn)場組網(wǎng)后容易出現(xiàn)不正常的工作狀態(tài)，各節(jié)點(diǎn)間出現(xiàn)通信故障，所以輸入電壓閾值測試也是CAN物理層一致性測試中的重要部分。測試標(biāo)準(zhǔn)每個(gè)廠家在產(chǎn)品投入使用前，都要進(jìn)行CAN節(jié)點(diǎn)的輸入電壓閾值測試，一般都是遵循ISO11898-2輸入電壓閾值標(biāo)準(zhǔn)，具體要求如表1所示。

負(fù)載效應(yīng) 穩(wěn)壓精度：≤0.5%有效值（阻性負(fù)載）

恒流精度：≤0.5%有效值（阻性負(fù)載）

輸出紋波 穩(wěn)壓狀態(tài)（CC）：≤0.3%+10mV（rms）（有效值）

穩(wěn)流狀態(tài)（CV）：≤0.5%+10mA（rms）（有效值）

輸出顯示 4位半數(shù)字表     精度 ：±1% +1個(gè)字

顯示格式  00.00V-19.99V；000.0V-199.9V；0000V-1999V；

電壓電流設(shè)定 多圈電位器、按鍵式、液晶觸摸屏（可選）

過壓保護(hù) 內(nèi)置O.V.P保護(hù)，保護(hù)值為額定值+5%，保護(hù)后關(guān)閉輸出，重新開機(jī)解鎖

過流保護(hù) 過載、短路、定電流輸出半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù)，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機(jī)臺上，由WATRecipe自動控制測試位置和內(nèi)容，測完某條TestKey后，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。程控直流恒流源廠家其典型的信噪比為55dB，而8位示波器一般只有35～40dB。是將一個(gè)多諧波信號分別輸入到8位和12位示波器，轉(zhuǎn)化到頻域觀察的圖形。兩者頻域的垂直刻度和基準(zhǔn)都一樣?？梢钥闯?，12位示波器的頻域噪底比8位示波器低大約lOdB。我們來看一個(gè)實(shí)際的測試案例：需要對某開關(guān)電源產(chǎn)品中的功率MOS管進(jìn)行分析。其中有一個(gè)測試項(xiàng)是MOS管導(dǎo)通損耗。分別用電壓和電流探頭測量漏源電壓Vds與漏極電流Ids，在示波器上將兩個(gè)波形相乘得到功率波形，導(dǎo)通期間的功率就是導(dǎo)通損耗。